このコースについて

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柔軟性のある期限
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中級レベル

Background in math and physics (especially in quantum mechanics and solid state physics) corresponding to the bachelor level is required.

約18時間で修了
英語

学習内容

  • Giving a basic knowledge on electron and ion beam fornmation and particle-matter intetaction.

  • Giving an information on main working principles of scannig and transmission electron microscopes as well as focused ion beam systems.

  • Giving a knowledge on image formation and iterpretation in electron and ion microscopy.

  • Giving a knowledge on additional methods, which are used in electron microscopy for material analysis.

習得するスキル

  • Layout of the transmission electron microscope and its main working modes.
  • Main components of electron and ion microscopes
  • Energy dispersive and wavelength dispersive X-ray spectrometers
  • Scanning electron microscope layout and electron optics.
  • Sputtering with focused ion beam and its applications.
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サンクトペテルブルク大学(Saint Petersburg State University)

シラバス - 本コースの学習内容

1

1

6時間で修了

General Topics in Electron and Ion Microscopy

6時間で修了
20件のビデオ (合計134分), 3 学習用教材, 6 個のテスト
2

2

3時間で修了

Scanning Electron Microscopy

3時間で修了
9件のビデオ (合計66分), 1 学習用教材, 3 個のテスト
3

3

4時間で修了

Transmission Electron Microscopy

4時間で修了
16件のビデオ (合計110分), 2 学習用教材, 4 個のテスト
4

4

3時間で修了

Scanning Ion Microscopy and Focused Ion Beams

3時間で修了
8件のビデオ (合計57分), 1 学習用教材, 3 個のテスト

よくある質問

さらに質問がある場合は、受講者ヘルプセンターにアクセスしてください。